日本chino光学干涉涂层测厚仪IRMS8599S

来源：秋山科技（东莞）有限公司时间：2023-08-10 [举报]

日本chino光学干涉涂层测厚仪 IRMS8599S

IRMS8599将光投射到要测量的薄膜上，并测量表面反射光和反射背上反射光引起的干涉厚度。
它适用于半导体、液晶面板、太阳能电池、LED 面板和涂层等制造工艺。
IRMS8599S 具有 RS-485 通信和模拟输出功能。

实时测量 1 μm 或更小的超薄膜

IRMS8599S 配备 RS-485 通信和模拟输出功能。

日本chino光学干涉涂层测厚仪 IRMS8599S

名字	光学干涉镀膜测厚仪
格式	IRMS8599S
如何衡量	可见光近红外连续光谱
测量范围	20纳米~100微米
测量波长范围	0.4~1.0微米
测量距离/直径	10~80毫米/φ20毫米（平行光筒） 18毫米/φ2毫米（会聚光学镜筒） 80毫米/φ5毫米（会聚光学镜筒）
测量间隔	10~10000毫秒
光源	钨丝灯
纤维	双分支束光纤
通信接口	RS-485
模拟输出信号	4~20mA DC（负载电阻500Ω以下）
权力	24V 直流
功耗	高达 150VA
质量	约 3.5 千克
防护结构	防尘防溅结构（IP65）

标签：涂层测厚仪责任编辑：熊嘉